半導体試験装置（テスタ）
専用テスタ/テストシステム開発
ウェーハ検査工程やパッケージ後の最終工程でデバイスの良否判定をおこなう装置です。
当社では、半導体ＩＣの開発／不良解析から量産まで、ニーズに適したテストソリューションをハード・ソフト両面からご提案します。
テスト環境や予算に応じ、ご要望に合わせて機能を絞り込んだコストパフォーマンスの高い専用テスタ/テストシステム開発を承ります
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01基本のテスタ・プラットフォームに、カスタマイズした各種回路基板を組み合わせた、専用テストシステムの開発
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02各種デバイスへの品種対応、ニーズに合ったソフトウェア追加など、テスト・ソリューションの構築
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03企画・設計開発から量産・立上げ・メンテナンスまでトータルサポート
専用テスタ制作例
提供可能なソリューション
- ロジックテスト
- メモリテスト
- アプリケーションソフト
- デバイス測定プログラム
- ピンエレクトロニクス基板
半導体試験装置（テスタ）とは
半導体テスタとは、半導体デバイスに電気信号などを与え、出力される信号を期待値と比較することで、設計仕様通りに動作するかどうかを検査する装置です。ATE（Automated Test Equipment）ともよばれています。
テスタはロジックテスタ、メモリテスタ、アナログテスタに大きく分類されます。通常半導体の検査は、大きく分けると2段階あり、ウェーハ状態でおこなうウェーハ検査（ダイ・ソーティングやプローブ検査などとも呼ばれる）と、パッケージング後におこなわれるパッケージ検査に分かれます。ウェーハ検査ではプローバとプローブカードが、パッケージ検査ではハンドラとテストソケットが、それぞれテスタと共に用いられます。
【ロジックテスタ】
【ウェーハ検査装置】
BIST/DFTテスタとは
BIST/DFTテスタとは、BIST（Built-In Self Test）と呼ばれる自己診断回路を搭載した半導体LSIチップを、効率的に検査することができるテスタです。
BISTとは
BISTは、テスト容易化設計（DFT：Design For Testability）技術の一つです。テスタ機能の一部である「テスト・パターンを発生する回路」と「テスト結果と期待値を照合する回路」をLSIチップの中に組み込むことで、テストそのものをチップ内の回路でおこなうことが可能です。BIST回路には、メモリを検査する「メモリBIST」、論理回路を検査するための「ロジックBIST」があります。
日本マイクロニクスのBIST/DFTテスタ
日本マイクロニクスでは、BIST/DFTに対応したテスタを提供しています。メモリBIST、ロジックBIST等の仕様に合わせた最適なハードウェアで構成することができ、『導通試験』『ACパラメトリックテスト』『DCパラメトリックテスト』『ファンクションテスト』に対応します。お客さまのニーズに合った最適化設計で、多ピン、コンパクト、低コストを実現しています。
