製品情報

世界有数のプロービング技術は新たな広がりを見せています。

いち早く半導体やFPD検査に着目した日本マイクロニクスは、電子計測技術と微細加工技術の高度化を追求し、独創的なプロービングテスト(探針検査)技術を育んできました。さらに現在では、専用LSIチップやテスタなどプロービングテスト周辺の製品や技術の開発にも踏み出しています。

半導体関連製品

超微細、短納期、低コストに対応する最先端製品群

半導体ウェーハの製造工程における電気的検査用「プローブカード」、半導体最終検査工程用「テストソケット」、電気的検査判定用「半導体テスタ」、デバイス開発・不良解析用「ウェーハプローバ」などを提供しています。市場要求にお応えする最先端の製品群をラインナップしています。

製品例

FPD関連製品

検査の自動化・省人化と品質・生産性向上に貢献

FPD (Flat Panel Display)の製造において、パネル点灯検査工程のAOI(自動光学検査)装置や、モジュール最終工程で使用されるムラ検出・補正ソリューション、検査対象デバイスに電気信号を伝えるプローバおよびプローブユニットなどを提供しています。これらのテスト・ソリューションを通じて、パネルの品質と生産性の向上に貢献します。

製品例

*FPD用プローバ製品に関連する技術ライセンスを台湾GPM社(Gallant Precision Machining Co., Ltd.)へ供与しています。

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