第26回 韓国半導体テスト学術大会

＜開催期間＞
2025年7月14日（月）

＜会場＞
Suwon Convention Center, Korea

＜展示内容＞
Probe Card
　-U-Probe for DRAM / MEMS-SP for flip chip
　-MEMS-V for Logic Devices
Custom Tester
Wafer Prober
Test Sockets

＜公式サイト＞
第26回 韓国半導体テスト学術大会 公式サイト