＜開催期間＞
2025年11月20日(木)～21日(金)
＜会場＞
ヒルトン福岡シーホーク
＜ブース＞
No.404
＜展示内容＞
・Probe Card
U-Probe for DRAM / MEMS-SP for flip chip / MEMS-V for Logic Devices
・Tester
・Wafer Prober
・Test Sockets
＜公式サイト＞
SWTest Asia 2025
＜開催期間＞
2025年11月20日(木)～21日(金)
＜会場＞
ヒルトン福岡シーホーク
＜ブース＞
No.404
＜展示内容＞
・Probe Card
U-Probe for DRAM / MEMS-SP for flip chip / MEMS-V for Logic Devices
・Tester
・Wafer Prober
・Test Sockets
＜公式サイト＞
SWTest Asia 2025