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Semiconductor Wafer Test Conference (SWTest)2025

<開催期間>
2025年6月2日(月)~4日(水)

<会場>
Omni La Costa Hotel, Carlsbad, California, U.S.A.

<展示内容>
・Probe Card
 MEMS-SP for flip chip / MEMS-V for Logic Devices / U-Probe for DRAM
・Test Sockets
・ J-Contacts

<公式サイト>
SWTest 2025