BIST/DFTテスタとは

BIST/DFTテスタとは、BIST(Built-In Self Test)と呼ばれる自己診断回路を搭載した半導体LSIチップを、効率的に検査することができるテスタです。

BISTとは

BISTは、テスト容易化設計(DFT:Design For Testability)技術の一つです。テスタ機能の一部である「テスト・パターンを発生する回路」と「テスト結果と期待値を照合する回路」をLSIチップの中に組み込むことで、テストそのものをチップ内の回路でおこなうことが可能です。BIST回路には、メモリを検査する「メモリBIST」、論理回路を検査するための「ロジックBIST」があります。

BIST検査のメリット

BIST検査導入における最大のメリットは、テストコストの低減です。テスト・パターンのほとんどをLSIテスタから供給する必要がないため、1チップあたり少ないテストピンで検査が可能になり、一度に検査できるチップ数を増やすことができます。そのため、高機能なテスタを必要とせず、テスタやプローブカードへの投資を押さえることが可能となります。また、高速テスト信号をLSI内部で生成するため、実動作速度での検査をおこなうことができるというメリットもあります。

日本マイクロニクスのBIST/DFTテスタ

日本マイクロニクスでは、BIST/DFTに対応したテスタを提供しています。メモリBIST、ロジックBIST等の仕様に合わせた最適なハードウェアで構成することができ、『導通試験』『ACパラメトリックテスト』『DCパラメトリックテスト』『ファンクションテスト』に対応します。お客さまのニーズに合った最適化設計で、多ピン、コンパクト、低コストを実現しています。

PAGE TOP