半導体試験装置(テスタ)

ニーズに適したソリューションでテストコスト削減に貢献

モデル μTAT5100 シリーズ μTAT5300 シリーズ
μTAT5100-Mini μTAT5100 μTAT5300-Cube μTAT5300
測定周波数 Max.33MHz Max.100MHz
ピン数 256~512ピン 256~4,096ピン 64~512ピン 64~2,048ピン
対応デバイス MCU
ASIC
Memory
System LSI

μTATシリーズ(ロジックテスタ)

μTAT5100

多ピン対応のローコスト・ロジックテスタです。

特長

ロジックテストのための基本機能を装備

  • コストパフォーマンスの高いテストを実現できます。
測定周波数 33MHz
最大搭載可能ピン数 4,096ピン

μTAT5100-Mini

コンパクトなローコスト・ロジックテスタです。

特長

μTAT5100シリーズのアーキテクチャを採用

  • 少数ピンながら、評価/解析から量産まで対応できます。
測定周波数 33MHz
最大搭載可能ピン数 512ピン

μTAT5300

パー・ピンの高速ロジックテスタです。

特長

テストの自由度が高いパー・ピン・アーキテクチャ

  • テスト条件をピンごとに設定可能、タクト短縮に貢献します。

STIL(Standard Test Interface Language)のダイレクトインターフェースを装備

  • テストプログラムの開発期間を短縮できます。

オプションでメモリテストを追加可能

測定周波数 100MHz
最大搭載可能ピン数 2,048ピン

μTAT5300-Cube

コンパクトでローコストなパー・ピン・ロジックテスタです。

特長

μTAT5300シリーズのアーキテクチャを採用

  • 少数ピンながら、評価/解析から量産まで対応できます。
測定周波数 100MHz
最大搭載可能ピン数 512ピン

専用テスタ/テストシステム開発

必要十分な機能・性能で、コストパフォーマンスの高いテストシステムを実現

テスト環境や予算に応じて機能を絞り込んだ専用テスタ/テストシステムの開発を承ります。

  • 基本のテスタ・プラットホームに、カスタマイズした各種回路基板を組み合わせた、
    専用テストシステムの開発
  • 各種デバイスへの品種対応、ニーズに合ったソフトウェア追加など、テスト・ソリューションの構築

提供可能なソリューション

  • メモリテスト、アナログテスト
  • アプリケーションソフト
  • デバイス測定プログラム
  • ピンエレクトロニクス基板
PAGE TOP