パッケージプローブ(テストソケット)

カスタマイズで、検査環境に最適なテストソケットを提供

日本マイクロニクスは、2つのタイプのテストソケットを検査環境に最適な仕様にカスタマイズし、ご提供しています。
BeeContactsは、独自構造のセルフクリーニング効果により鉛フリーパッケージに完全対応し、クリーニング頻度の低減、歩留りの向上に寄与する、製品寿命の長いテストソケットです。
J-Contactsは、高周波デバイスの測定に優れた信頼性の高いテストソケットです。

BeeContacts

BGA用テストソケット

半田ボールへの多点接触により、高い接触安定性を実現します。

特長

  • スクラブ動作により半田付着を低減
  • 耐久性が高く、長期間にわたり使用が可能

QFN/SON用テストソケット

パッドへの多点接触により、高い接触安定性を実現します。

特長

  • ピンの長寿命化、クリーニング頻度の低減により、生産ラインへの歩留り向上に貢献

QFP/SOP用テストソケット

リードへの多点接触により、高い接触安定性を実現します。

特長

  • ピンの長寿命化、クリーニング頻度の低減により、生産ラインへの歩留り向上に貢献

WLCSP用テストソケット

ボールへの多点接触により、高い接触安定性を実現します。

特長

  • ピンの長寿命化、クリーニング頻度の低減により、生産ラインへの歩留り向上に貢献

J-Contacts

QFN/SON用テストソケット

特長

  • リードレス小型軽量薄型QFN/SONの測定に適したピンタイプ
  • パット材質Sn・NiPdに対応が可能

QFP/SOP用テストソケット

特長

  • リード端子を持つQFP/SOPの測定に適したピンタイプ
  • リード曲がりや打痕を低減

小型電子部品用テストソケット

特長

  • パッケージ外形寸法が1mm以下の極小電子部品測定に適したピンタイプ
  • J-Contactsシリーズで最も高周波測定に最適

Kelvin用テストソケット

特長

  • 高精度なKelvin測定が可能なピンタイプ

GND Block
(タイプ:Flat type, Peaked type, Pin type)

特長

  • J-ContactsのGNDパットに適した接触端子
  • 電気特性、放熱特性の改善、メカニカルストッパー機能、ピン組み込みタイプ等、様々なニーズに対応可能
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