半導体関連製品

様々なニーズに適したテスト・ソリューションを提供します

日本マイクロニクスは、半導体ウェーハ検査工程におけるプローブカード、テスタ、ウェーハプローバ、最終試験におけるテストソケットまで、半導体設計・製造の品質と生産性向上に貢献するソリューションを幅広く提供します。

プローブカード

プローブカードとは、半導体製造のウェーハ検査工程において、ウェーハ上に形成されたIC(半導体集積回路)の良否判定をおこなうために用いる検査器具です。日本マイクロニクスのプローブカードは、高い精度と品質で、様々なテスト環境のご要望にお応えします。

主要製品

半導体試験装置(テスタ)

半導体試験装置(テスタ)は、半導体のウェーハ検査工程や、パッケージ後の最終検査工程で、デバイスの良否判定をおこなう装置です。
日本マイクロニクスは、開発/不良解析から量産までニーズに応じた最適なテスタを提供し、テストコストの削減に寄与します。

主要製品

ウェーハプローバ

半導体デバイスの特性評価・良否判定のため、ウェーハにプローブをコンタクトさせテスタや測定器の電気信号を伝える装置です。
日本マイクロニクスは、研究開発用のマニュアルプローバから量産テスト用のオートプローバまで、幅広くラインナップしています。

主要製品

パッケージプローブ(テストソケット)

半導体製造工程の最終試験において、パッケージされた半導体デバイスを試験する際に用いる検査治具です。日本マイクロニクスでは、高周波に適したJ-Contactsと、接触性、耐久性に優れたBeeContactsの、2つのタイプのパッケージプローブ(テストソケット)を提供しています。

主要製品

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