自動光学検査/ムラ検出・補正ソリューション

パネル歩留まり向上・コストダウンに貢献する検査ソリューション

日本マイクロニクスでは、パネル歩留り向上やコストダウンに寄与するテストソリューションをご提供しています。
自動光学検査装置は、FPDセル/モジュール工程において、点欠陥・線欠陥・輝度ムラ等を光学的に検出します。従来の目視検査に代わり、オペレータの主観による判定を排除した定量的な検査が可能です。省人化・定量化によりテストコスト低減と、品質の安定化、歩留まり向上にも貢献します。
ムラ検出・補正システムは点灯制御の補正をすることでムラを消去し、パネルを良品化します。歩留まり向上、品質(グレード)の向上、部材最適化によるコストダウンに貢献します。

自動光学検査装置(AOI)

PIXQUIRE(ピクスワイア)

テストの省人化・定量化を実現

大型パネル用 セル / モジュール・テスタ

最大110インチまでの大型パネルに対応した検査装置です。

特長

超高解像度8K4Kパネルにも対応

  • 将来にわたり使用可能なため、投資価値が永続します。

CCDカメラによる点欠陥・線欠陥・輝度ムラ等の自動検出およびアドレス特定が可能

  • 省人化・定量化によりテストコストが削減できます。
  • リペアにより歩留まりが向上します。

お手持ちのセルプローバと接続することで、検査の完全自動化を実現

  • 初期投資を抑え、生産性の向上に寄与します。

中小型用 セル / モジュール・テスタ

タブレット、車載デバイスなどの中小型パネル用プローバ一体型検査装置です。

特長

複数パネルの同時検査が可能

  • 高スループットにより生産性が向上します。

CCDカメラによる点欠陥・線欠陥・輝度ムラ等の自動検出およびアドレス特定が可能

  • 省人化・定量化によりテストコストが削減できます。
  • リペアにより歩留まりが向上します。

モジュール検査特有のクロストーク・フリッカー・残像など多様な検査が可能

  • 次工程への不良品流出を防止し、コスト低減に貢献します。

ムラ検出・補正システム

Gaterumph

歩留まり向上・品質向上・コストダウンに貢献

LCD/OLED(有機EL)パネルの点灯ムラを自動検出し、補正するシステムです。
中小型パネルから大型パネルまで、幅広く対応しています。

特長

材料や製造工程起因のムラを、光学的に自動で検出し補正

  • 不良パネルの良品化により、歩留りが向上します。
  • パネル品質(グレード)の向上も可能です。

安価部材使用時に発生しがちな部材起因のムラ補正も可能

  • 部材選択の幅が広がり、更なるコストダウンも期待できます。

ムラ補正後に良否判定も可能

  • 再点灯テストが不要で、テストコスト削減に寄与します。

※本装置は、株式会社イクスとの共同開発品です。

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