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イベントカレンダー

2017年

会期	展示会名称	会場	出展製品
12月13日- 12月15日	SEMICON Japan 2017	東京ビッグサイト	プローブカードパッケージプローブ（テストソケット）テスタウェーハプローバ
9月13日- 9月15日終了しました	SEMICON TAIWAN 2017	Taipei Nangang Exhibition Center, Taiwan	アドバンスト・プローブカード; フリップチップ向けMEMS-SP / DRAM向けU-Probe / Vertical-Probe（Needle Type）カンチレバー・プローブカード; 小パッド対応針仕様パッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts テスタ; µTAT5300 ウェーハプローバ; 解析用 / パワーデバイス用
6月27日終了しました	18回韓国半導体テスト学会	The K ソウルHotel(ソウル教育文化会館)本館3F	アドバンスト・プローブカード; フリップチップ向けMEMS-SP / DRAM向けU-Probe / Vertical-Probe（Needle Type）パッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts
6月4日- 6月7日終了しました	Semiconductor Wafer Test Workshop（SWTW2017）	Rancho Bernardo Inn Resort & Spa, San Diego, CA, USA	アドバンスト・プローブカード; フリップチップ向けMEMS-SP / DRAM向けU-Probe / ロジック向けプローブカードパッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts
3月14日- 3月16日終了しました	SEMICON CHINA 2017	Shanghai New International Expo Centre, China	アドバンスト・プローブカード; フリップチップ向けMEMS-SP / DRAM向けU-Probe / Vertical-Probe（Needle Type）パッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts
3月5日- 3月8日終了しました	BiTS EXPO 2017 （Burn-in & Test Strategies Workshop）	Hilton Phoenix East/Mesa Hotel, AZ, USA	パッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts
2月15日- 2月17日終了しました	nano tech 2017	東京ビッグサイト	微細加工技術

2016年

会期	展示会名称	会場	出展製品
12月14日- 12月16日	SEMICON Japan 2016	東京ビッグサイト	アドバンスト・プローブカード; フリップチップ向けMEMS-SP / DRAM向けU-Probe / Vertical-Probe（Needle Type）カンチレバー・プローブカード; 小パッド対応針仕様パッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts テスタ; µTAT5100 / 5300 ウェーハプローバ; 解析用 / パワーデバイス用
6月21日	17回韓国半導体テスト学会	ソウル	アドバンスト・プローブカード; フリップチップ向けMEMS-SP / DRAM向けU-Probe / Vertical-Probe（Needle Type）パッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts
6月5日- 6月8日	Semiconductor Wafer Test Workshop（SWTW2016）	カリフォルニア	アドバンスト・プローブカード; フリップチップ向けMEMS-SP / DRAM向けU-Probe / ロジック向けプローブカードパッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts
3月15日- 3月17日	SEMICON CHINA 2016	上海	アドバンスト・プローブカード; フリップチップ向けMEMS-SP / DRAM向けU-Probe / Vertical-Probe（Needle Type）パッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts
3月6日- 3月9日	BiTS EXPO 2016 （Burn-in & Test Strategies Workshop）	アリゾナ	パッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts
1月27日- 1月29日	nano tech 2016	東京ビッグサイト	微細加工技術

2015年

会期	展示会名称	会場	出展製品
12月16日- 12月18日	SEMICON Japan 2015	東京ビッグサイト	アドバンスト・プローブカード; フリップチップ向けMEMS-SP / DRAM向けU-Probe / Vertical-Probe（Needle Type）カンチレバー・プローブカード; CMOS イメージセンサー向けLumeasy パッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts テスタ＆テストソリューション
6月7日- 6月10日	2015 IEEE Semiconductor Wafer Test Workshop（SWTW）	カリフォルニア	アドバンスト・プローブカード; フリップチップ向けMEMS-SP / DRAM向けU-Probe カンチレバー・プローブカード; CMOSイメージセンサ向けLumeasy パッケージプローブ（テストソケット）; J-Contacts / BeeContacts
3月15日- 3月18日	BiTS EXPO 2015 （Burn-in & Test Strategies Workshop）	アリゾナ	パッケージプローブ（テストソケット）; BeeContacts / J-Contacts NF-Series / J-Contacts K-Series
1月28日- 1月30日	nano tech 2015	東京ビッグサイト	微細加工技術