SEMICON China 2025

＜開催期間＞
2025年3月26日(水)～3月28日(金)

＜会場＞
SNIEC, Shanghai, China

＜展示内容＞
・Probe Card
　　U-Probe for DRAM / Cantilever
　　MEMS-SP for flip chip / MEMS-V for Logic Devices
・Package Probe (Test Sockets)

＜ブース番号＞
T3169

＜公式サイト＞
SEMICON China 2025