歴史・沿革

1970年代計測技術と微細加工技術への挑戦

わずか3名で電子機器の保守業務からスタートした日本マイクロニクスは、半導体検査や精密測定に着目し、電子計測技術と微細加工技術による製品開発を開始。日本の技術による初のプローブカードやウェーハマニュアルプローバなどの製品を開発・発売しました。

1970年11月
シンクロスコープ、ファクシミリ、産業半導体、真空試験装置のメンテナンスを目的として、東京都目黒区にトーワ電気株式会社を設立
設立当時の開発風景
1971年7月
東京都武蔵野市に本社を移転
半導体を対象とした計測技術および微細加工技術の研究開発を開始
本社
1973年11月
半導体検査装置および精密測定機器を開発、販売を開始
当時のプローブカードテスタ
1975年4月
商号を株式会社日本マイクロニクスに変更
1976年3月
プローブカード開発
新配列で特許取得
カンチレバー型
プローブカード
1977年8月
マニュアルプローバ1号機を完成
マニュアルプローバ1号機

1980年代プロービング技術の確立

プローブカードの生産拠点を青森、大分、熊本に開設し、プローブカードメーカーとしての礎を築きました。また、半導体でのプロービング技術を活かし、液晶ディスプレイ検査のスタンダードとなる検査装置を世に送り出しました。

1981年5月
青森県南津軽郡平賀町(現 平川市)に平賀工場を開設
1985年1月
大分市に大分営業所(現 九州営業所)を開設
1985年3月
青森県南津軽郡平賀町(現 平川市)に新平賀工場(現青森工場)を新設
1985年4月
青森営業所を開設
新平賀工場
(現 青森工場)
1985年8月
大分市に大分工場を新設
1985年12月
液晶ディスプレイ検査装置1号機を完成
1986年7月
熊本市に熊本営業所(現 熊本出張所)を開設
液晶ディスプレイ
検査装置1号機
1987年3月
熊本市に熊本工場を新設
1989年8月
東京都三鷹市に研究開発拠点として研究開発センターを開設
(2012年9月 本社・青森松崎工場と統合)

1990年代プロービング技術でグローバル企業へ

カンチレバー型プローブカードと、液晶ディスプレイ検査装置のグローバル・リーディングカンパニーとしての地位を確立。1997年には店頭市場(現 JASDAQ市場)に登録をしました。

1992年1月
パッケージプローブ開発に着手
1994年6月
神戸市中央区に関西営業所(現 関西出張所)を開設
1997年4月
日本証券業協会に株式を店頭登録
パッケージプローブ(テストソケット)
1997年6月
大分工場および大分営業所を集約し、大分テクノロジーラボラトリーを開設
大分テクノロジー
ラボラトリー
1998年12月
熊本工場および熊本営業所(現 熊本出張所)を熊本県上益城郡益城町に移転し、熊本テクノロジーラボラトリーに名称変更
(2012年9月 大分テクノロジーラボラトリーと統合)
1999年3月
米国カリフォルニア州サンノゼ市にサンノゼ支店を開設
熊本テクノロジー
ラボラトリー

2000年代MEMS技術やシステム技術で新たな挑戦

独自のMEMS型プローブカードの製品化で、世界初となるウェーハ一括同時測定を実現させたほか、液晶ディスプレイのAOI※1装置や半導体のBIST※2テスタなど、新たな技術での挑戦が実を結びました。また、海外売上増加に伴い、海外拠点を拡充しました。

  • ※1:AOI(Automated Optical Inspection):自動光学検査
  • ※2: BIST(Built-In Self-Test):組込み自己検査
2000年7月
青森県南津軽郡平賀町(現 平川市)に青森松崎工場を開設
2003年1月
中国上海市に子会社MJC Microelectronics(Shanghai)Co., Ltd.を設立
青森松崎工場
2003年11月
韓国に子会社MDK Co.,Ltd.を設立(2011年6月 MEK Co.,Ltd.と合併)
2004年5月
茨城県真壁郡(現 筑西市)に茨城テクノロジーラボラトリーを開設(2011年11月 青森工場と統合)
2004年7月
台湾に子会社Taiwan MJC Co., Ltd.を設立
2004年11月
液晶ディスプレイAOI装置を製品化
2004年12月
ジャスダック証券取引所に上場
液晶向けAOI PIXQUIRE
2005年1月
世界初の8インチウェーハ一括測定プローブカードを製品化
世界初ウェーハ
一括プローブカード
「U-Probe」
2005年3月
中国上海市に子会社China MJC(Shanghai)Co., Ltd.を設立
2005年5月
半導体BISTテスタを製品化
2005年5月
KES環境マネジメントシステム認証取得
テスタ事業初製品NAND向けBISTテスタ 
2006年6月
米国に子会社MJC Electronics Corporationを設立
2006年10月
東京都三鷹市に子会社 株式会社MJCテクノを設立
2007年5月
青森工場に新棟を増設
独国ザクセン州に子会社MJC Europe GmbHを設立
2008年10月
韓国京畿道富川市に子会社MEK Co., Ltd.を設立
子会社MEK

2010年代強靭な企業体質を基盤に、新たな成長に挑む

これからも、継続的な成長を目指して企業体質の強化を図りながら、コア技術の新たな応用フィールドの開拓を推し進めます。

2010年1月
国内全拠点においてISO9001、14001を認証取得
2010年4月
薄膜太陽電池検査装置および太陽電池用ウェーハ検査装置を開発
2010年4月
ジャスダック証券取引所と大阪証券取引所の合併に伴い、大阪証券取引所JASDAQ市場に上場
2011年4月
中国江蘇省に子会社
MJC Microelectronics(Kunshan)Co., Ltd.を設立
2013年7月
大阪証券取引所と東京証券取引所の統合にともない、東京証券取引所JASDAQ(スタンダード)に上場
子会社MMK
2015年2月
台湾GPM社とLCD装置事業の業務提携
2015年11月
東京証券取引所 市場第一部に市場変更
東京証券取引所市場第一部に市場変更
2016年12月
シンガポールに子会社MJC Electronics Asia Pte.Ltd.を設立
2017年10月
子会社 株式会社MJCテクノを吸収合併
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