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日本マイクロニクスは、おかげさまで創立40周年を迎えることができました。
当社は1970年の設立当初には電子機器のメンテナンスを主要業務としておりましたが、1973年から半導体検査装置および精密測定機器の開発・販売を開始し、その後は1976年にプローブカードを開発、1977年にマニュアルプローバ1号機を完成、1985年には液晶ディスプレイ検査装置の日本での第1号機を完成するなど半導体、液晶関係の検査・測定機器のリーディングカンパニーとして揺るぎない地位を確保してまいりました。
現在では、ICの回路を検査するための接触端子であるプローブカードとLCD検査装置のトップメーカとして、当社製品のユーザーである国内外の半導体、LCDメーカ様から高い信頼と評価をいただいております。
さらに2010年には太陽電池の検査・測定機器の販売も開始し、社名にも取り込んだマイクロエレクトロ二クス技術に一層の磨きをかけ、業容拡大に努めております。
テスト技術と共に40年、技術革新の目まぐるしい業界において、常に先を見て、良い製品をつくり続ける努力をしてまいりました。そして、これからも「電子計測技術を通して広く社会に貢献する」という経営理念のもと、お客様の「neeｄs」を叶えるために、当社の強みである技術力と開発力を活かし、さらに進化し、発展し続けていく考えであります。
皆様方におかれましては引き続きご支援のほどよろしくお願い申し上げます。
相談役名誉会長 長谷川義榮 インタビュー記事
- 「Semiconductor FPD World」2007年1月号
(1,048KB) - 「日経研月報」2006年12月号(2,538KB)
- 「月刊 資本市場」2005年4月号(761KB)
代表取締役社長 長谷川正義 インタビュー記事
- 「キャノン広告 『社長、曰く』 2010年冬」関連取材記事(3,754KB)
>> キャノン 『社長、曰く』 広告ギャラリーのウェブサイトはこちらから - 「Semiconductor FPD World」2007年7月号(1,685KB)
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